粒度測試的精度受方法原理、儀器性能、樣品特性及操作規范等多重因素影響。以下從精度來源、影響因素、提升方法及典型方法精度對比四個方面系統闡述：
粒度測試精度的核心來源：
方法原理的局限性
激光衍射法：基于米氏散射理論，假設顆粒為球形且均勻分散。對于非球形顆粒(如纖維、片狀顆粒)或寬分布樣品，理論模型與實際存在偏差，導致精度下降。
動態光散射法(DLS)：依賴顆粒布朗運動，對大顆粒(>1μm)或高濃度樣品易出現多重散射，影響結果準確性。
圖像分析法：依賴顆粒圖像清晰度及算法識別能力，對重疊顆粒或透明顆粒的識別精度有限。
儀器性能的差異
分辨率：儀器(如Malvern Mastersizer 3000)的光學系統分辨率更高，可區分更接近的粒徑；低端儀器可能將相近粒徑合并統計。
重復性：精密儀器(如RSD<1%)的重復性優于普通儀器(RSD>3%)，尤其對微小粒徑變化更敏感。
檢測范圍：部分儀器(如電阻法)對特定粒徑范圍(如0.4-1200μm)精度更高，超出范圍時誤差增大。
樣品特性的干擾
團聚：顆粒團聚會導致測量值偏大，分散性差的樣品精度顯著降低。
密度與形狀：高密度顆粒沉降快，可能被誤判為大粒徑；非球形顆粒的等效球徑計算存在誤差。
折射率匹配：激光衍射法需輸入顆粒與分散介質的折射率，若參數不匹配，結果偏差可達10%-30%。
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